Lufts dielektriska styrka
On november 19, 2021 by admin| Bibliografisk post | Resultat (med omgivande text) |
Standardiserat Resultat |
|---|---|---|
| Tipler, Paul A. College Physics. Worth, 1987: 467. | ”Detta fenomen, som kallas dielektrisk nedbrytning, inträffar i luft vid en elektrisk fältstyrka på ungefär Emax = 3 × 106 V/m.” | 3 × 106 V/m |
| Rigden, John S. Macmillan Encyclopedia of Physics. Simon & Schuster, 1996: 353. | Air; Dielectric Constant, 1; Strength Es (kV/mm), 3 | 3 × 106 V/m |
| Yager, W. A. Digest on Literature on Dielectrics Volume X. Murray Hill, NJ: Bell Telephone Laboratories, 1947: 44-46. | ”Minimum sparking potentials in helium are 146, 161 and 187 volts” | 146 V 161 V 187 V |
| Hodgman, Charles D. & Norbert A. Lange. Handbok i kemi och fysik 10:e upplagan. Cleveland, OH: Chemical Rubber Publishing Co, 1925: 547. | ”Gnistlängd (cm), 0,10; punktelektroder, 3720; kulelektroder, 1 cm diameter: Konstant potential, 4560; växlande potential, 4400” | 3,7-4,5 × 106 V/m |
| Riley, Lewis A. Dielectrics. 1999-2000. | ”Lufts dielektriska styrka är cirka 3 × 106 V/m” | 3 × 106 V/m |
Dielektrisk nedbrytning inträffar när en laddningsuppbyggnad överskrider den elektriska gränsen eller den dielektriska styrkan hos ett material. De negativt laddade elektronerna dras i den ena riktningen och de positivt laddade jonerna i den andra. När elektroner avlägsnas från en kärna blir den positivt laddad. När luftmolekyler joniseras i ett mycket starkt elektriskt fält ändras luften från en isolator till en ledare. Gnistor uppstår på grund av rekombinationen av elektroner och joner. Blixtar uppstår när det sker en laddningsuppbyggnad i molnen och på marken Det ger upphov till ett elektriskt fält som överskrider luftens dielektriska styrka. Joniserad luft är en bra ledare och ger en väg där av laddningar kan flöda från moln till marken.
Luftens dielektriska styrka är cirka 3 kV/mm. Det exakta värdet varierar med elektrodernas form och storlek och ökar med luftens tryck.
Alice Hong — 2000
Externa länkar till denna sida:
- US Patent 7,569,112, Scanning probe apparatus with in-situ measurement probe tip cleaning capability, Lin Zhou, et al. 2009
Lämna ett svar