Luftens dielektriske styrke
On november 19, 2021 by admin| Bibliografisk indførsel | Resultat (m/omgivende tekst) |
Standardiseret Resultat |
|---|---|---|
| Tipler, Paul A. College Physics. Worth, 1987: 467. | “Dette fænomen, som kaldes dielektrisk nedbrydning, forekommer i luft ved en elektrisk feltstyrke på omkring Emax = 3 × 106 V/m.” | 3 × 106 V/m |
| Rigden, John S. Macmillan Encyclopedia of Physics. Simon & Schuster, 1996: 353. | Air; Dielectric Constant, 1; Strength Es (kV/mm), 3 | 3 × 106 V/m |
| Yager, W. A. Digest on Literature on Dielectrics Volume X. Murray Hill, NJ: Bell Telephone Laboratories, 1947: 44-46. | “Minimum sparking potentials in helium are 146, 161 and 187 volts” | 146 V 161 V 187 V |
| Hodgman, Charles D. & Norbert A. Lange. Håndbog i kemi og fysik 10. udgave. Cleveland, OH: Chemical Rubber Publishing Co, 1925: 547. | “Gnistlængde (cm), 0,10; punktelektroder, 3720; kugleelektroder, 1 cm i diameter: Konstant potentiale, 4560; vekslende potentiale, 4400” | 3,7-4,5 × 106 V/m |
| Riley, Lewis A. Dielektrikum. 1999-2000. | “Den dielektriske styrke af luft er ca. 3 × 106 V/m” | 3 × 106 V/m |
Dielektrisk nedbrydning opstår, når en ladningsopbygning overskrider den elektriske grænse eller den dielektriske styrke af et materiale. De negativt ladede elektroner trækkes i den ene retning og de positivt ladede ioner i den anden retning. Når elektroner fjernes fra en kerne, bliver den positivt ladet. Når luftmolekyler bliver ioniseret i et meget højt elektrisk felt, ændres luften fra en isolator til en leder. Der opstår gnister på grund af rekombination af elektroner og ioner. Lyn opstår, når der sker en ophobning af ladning på skyerne og jorden Det producerer det elektriske felt, der overstiger luftens dielektriske styrke. Ioniseret luft er en god leder og giver en vej, hvor af ladninger kan strømme fra skyer til jorden.
Luftens dielektriske styrke er ca. 3 kV/mm. Dens nøjagtige værdi varierer med elektrodernes form og størrelse og stiger med luftens tryk.
Alice Hong — 2000
Eksterne links til denne side:
- US Patent 7,569,112, Scanning probe apparatus with in-situ measurement probe tip cleaning capability, Lin Zhou, et al. 2009
Skriv et svar